作為在實驗室中常用的稱量工具之一，
AXB外部校準電子天平的出鏡率，尤其是在制藥行業的研發和生產中扮演著*的角色。
在整個藥品實驗過程中的稱量結果十分重要，直接影響到研發成果的可靠性和產品的品質，而當中關鍵的就是和精密稱定息息相關的天平“稱量誤差”的問題。
在稱量過程中，AXB外部校準電子天平的誤差是不可能避免的，我們應該把握準確計算方法計算誤差，從而將實驗數據更精確地記實下來。一般分兩種情況：
1、當e≠d時，示值誤差計算公式應為E=I－L(E：天平示值誤差，I：天平指示值，L天平稱盤上所加載荷)；
2、當e=d時，示值誤差計算公式應為E=I－L(1?2)d－△L(d：電子天平實際標尺分度值
在電子天平稱盤上為示值湊整而添加的載荷。不論哪種情況，要求所得各載荷點的誤差均小于規程中所劃定的答應誤差。
重復性檢定：電子天平重復性檢定應在空載和加載狀態下進行，加載的載荷有兩種：一種是全載，一種是半載。要求檢定中分別對加載和空載的平衡位置進行讀數并記實，同時留意每加一次載荷均應返零一次。
要求對同一載荷多次衡量結果之間的差值，不得超過AXB外部校準電子天平在該載荷時的誤差值。其中選取的尺度砝碼可以是級砝碼，也可以是等砝碼，但它的誤差(對于級砝碼為質量允差，對于等砝碼為檢定精度)不得大于被檢天平在該載荷下的誤差的1/3。
